機(jī)臺(tái)型號(hào)：ZJD-B ZJD-C QS37

ZJD-C型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

一、概述：

    ZJD-C型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)高的160MHz.ZJD-C介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)。

雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。

雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。

DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩(wěn)定。

計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路*化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

二、主要技術(shù)特性：

*1.信號(hào)源: DDS數(shù)字合成信號(hào) 100KHZ-160MHZ

*2.信號(hào)源頻率精度3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)

3．Q值測(cè)量范圍：1～1023

4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；

*5．電感測(cè)量范圍：1nH～140mH 自身殘余電感和測(cè)試引線(xiàn)電感的自動(dòng)扣除功能

*6．電容直接測(cè)量范圍：1pF～25nF                                       

7．主電容調(diào)節(jié)范圍： 17～240pF                                         

8．準(zhǔn)確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1% 

9．信號(hào)源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz

10．合格指示預(yù)置功能范圍：5～1000

11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13. S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：

數(shù)顯式微桿，平板電容器：

極片尺寸： 38mm

極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

夾具插頭間距：25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

測(cè)微桿分辨率：0.001mm

測(cè)試極片：材料測(cè)量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm 

*液體杯：測(cè)量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm

14. 電感組LKI-1：

分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個(gè)電感組成。

三、配置：

主機(jī)    一臺(tái)

電感    九支

夾具    一套

液體杯 一套

隨機(jī)文件一套

ZJD-C型硫化橡膠介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角

正切值的測(cè)定方法

警告：使用本標(biāo)準(zhǔn)的人員應(yīng)有正規(guī)實(shí)驗(yàn)室工作的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。本標(biāo)準(zhǔn)并未指出所有可能的安全問(wèn)題。使用者有責(zé)任采取適當(dāng)?shù)陌踩徒】荡胧?，并保證符合國(guó)家有關(guān)法規(guī)規(guī)定的條件。

1、范圍：

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的兩種測(cè)定方法。方法A為工頻（50Hz）下的測(cè)定方法，方法B為高頻電場(chǎng)下的測(cè)定方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于硫化橡膠。

2、規(guī)范性引用文件：

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件，其版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T 2941 橡膠物理試驗(yàn)方法試樣制備和調(diào)節(jié)通用程序（GB/T 2941-2006，ISO 23529：2004，IDT）

3、術(shù)語(yǔ)和定義：

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

3.1

介質(zhì)損耗 dielectric loss

絕緣材料在電場(chǎng)作用下，由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng)，在其內(nèi)部引起的能量損耗。

3.2

損耗角 δloss angleδ

在交變電場(chǎng)下，電介質(zhì)內(nèi)流過(guò)的電流向量和電壓向量之間的夾角（功率因數(shù)角φ）的余角（δ）。

3.3

損耗角正切 tanδ loss tangentδ

介質(zhì)損耗因數(shù) dielectric loss factor

介質(zhì)損耗角正切值。

3.4

介電常數(shù) εdielectric constant

絕緣材料在電場(chǎng)作用下產(chǎn)生極化，電容器極板間有電介質(zhì)存在時(shí)的電容量C、與同樣形狀和尺寸的真空電容量C₀之比。

注：不同試樣、不同電極的真空電容和邊緣校正的計(jì)算參見(jiàn)附錄A。

4、測(cè)試電極：

4.1 電極材料

見(jiàn)表1。

表 1 電極材料

4.2 電極尺寸

4.2.1 板狀試樣電極

4.2.1.1 方法A：板狀電極尺寸見(jiàn)表2，電極如圖1所示。

表 2 板狀試樣電極尺寸 單位為毫米

1——測(cè)量電極；

2——保護(hù)電源；

3——試樣；

4——高壓電極。

圖 1 板狀試樣電極配置（工頻）

4.2.1.2 方法B：采用二電極系統(tǒng)。電極尺寸大小與試樣尺寸相等，或電極小于試樣尺寸。板狀試樣電極直徑為φ38.0mm±0.1mm、φ50.0mm±0.1mm、φ70.0mm±0.1mm。

4.2.2 管狀試樣電極

4.2.2.1 方法A：管狀試樣電極尺寸見(jiàn)表3，電極如圖2所示。

表 3 管狀試樣電極尺寸

1——保護(hù)電極；

2——測(cè)量電極；

3——高壓電極；

4——試樣。

圖 2 管狀試樣電極配置（工頻）

4.2.2.2 方法B：管狀試樣電極尺寸，電極如圖3所示。

管狀試樣的電極長(zhǎng)度為50.0mm±0.1mm或70.0mm±0.1mm。

1——試樣；

2——上電極；

3——下電極。

圖 3 管狀試樣電極配置（高頻）

4.3 電極裝置

在進(jìn)行高頻測(cè)試時(shí)，根據(jù)測(cè)試頻率與測(cè)試要求可用支架電極（如圖4），當(dāng)頻率大于或等于1MHz且小于10MHz時(shí)，宜用測(cè)微電極（如圖5）；當(dāng)頻率大于或等于10MHz時(shí)，應(yīng)用測(cè)微電極。

1——上蓋螺釘；

2——上蓋板；

3——升降螺桿；

4——上電極導(dǎo)軌；

5——螺帽；

6——導(dǎo)筒；

7——導(dǎo)槽螺釘；

8——絕緣桿；

9——高壓電極；

10——試樣；

11——測(cè)量電極；

12——保護(hù)電極；

13——絕緣板（聚四氟乙烯板）；

14——絕緣支腳；

15——有機(jī)玻璃板。

圖 4 支架電極

1——微調(diào)管形電容器；

2——測(cè)試樣品電容器；

3——上支撐板；

4——上電極；

5——試樣；

6——下電極；

7——底板。

圖 5 測(cè)微電極

5、測(cè)試儀器：

5.1 方法A

5.1.1 測(cè)試儀器為工頻高壓電橋，其原理圖如圖6所示。

T  試驗(yàn)變壓器；

C₃  標(biāo)準(zhǔn)電容器；

C₅  試樣；

R₃  可變電阻；

C₂、C₄ 可變電容；

R₄  固定電阻；

G-  電橋平衡指示器；

P  放電器。

圖 6 工頻高壓電橋原理圖

5.1.2 測(cè)量范圍

損耗角正切（tanδ）：0.001～1；電容（C）：40pF～2000pF。

5.1.3 電橋測(cè)量誤差

測(cè)量時(shí)誤差不超過(guò)10%，當(dāng)試樣tanδ小于0.001時(shí)測(cè)量誤差不超過(guò)0.0001，電容的測(cè)量誤差不超過(guò)5%，標(biāo)準(zhǔn)電容器的tanδ應(yīng)小于0.0001。

5.1.4 電橋必須有良好的屏蔽接地裝置。

5.2 方法B

5.2.1 方法B的測(cè)試儀器有兩種：一種是諧振升高法（Q表），另一種時(shí)變電鈉法。

5.2.1.1 諧振升高法（Q表）

其測(cè)試原理圖如圖7所示。

A  電流表；

R₀  耦合電阻；

L  輔助線(xiàn)圈；

C  標(biāo)準(zhǔn)電容；

C₀  試樣；

V、V₁ 電壓表（用Q值表示）。

圖 7 Q表原理圖

5.2.1.1.1 測(cè)量范圍

頻率為50Hz～50MHz，電容40pF～500pF，Q值10～600。

5.2.1.1.2 測(cè)量誤差

電容誤差：±（0.5%C+0.1pF），Q值±10%；有關(guān)儀器的測(cè)量誤差均為±10%。

5.2.1.2 變電鈉法

其測(cè)試原理如圖8所示。

C——可調(diào)電容；

L——諧振線(xiàn)圈；

C_T——管形微調(diào)電容；

C_u——主電容；

C_x——試樣。

圖 8 高頻介質(zhì)損耗儀原理圖

6、試樣：

6.1 試樣尺寸

6.1.1 方法A試樣尺寸見(jiàn)表4。

表 4 試樣尺寸 單位為毫米

6.1.2 方法B試樣尺寸見(jiàn)表5。

表 5 試樣尺寸 單位為毫米

6.2 試樣的制備

試樣的制備應(yīng)符合GB/T 2941的規(guī)定，也可以在符合試樣厚度尺寸的膠板上用旋轉(zhuǎn)刀進(jìn)行裁切，制樣方法的不同，其試驗(yàn)結(jié)果無(wú)可比性。

6.3 試樣數(shù)量

試樣的數(shù)量不少于3個(gè)。

7、硫化與試驗(yàn)之間的時(shí)間間隔：

試樣在硫化與試驗(yàn)之間的時(shí)間間隔按GB/T2941的規(guī)定執(zhí)行。

8、試驗(yàn)條件：

8.1 試樣表面應(yīng)清潔、平滑，無(wú)裂紋、氣泡和雜質(zhì)等，試樣表面應(yīng)用蘸有無(wú)水乙醇的布擦洗。

8.2 試樣應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室溫度及濕度下至少調(diào)節(jié)24h。

8.3當(dāng)試樣處理有特殊要求時(shí)，可按其產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的進(jìn)行。

9、試驗(yàn)步驟：

9.1 方法A

9.1.1 試驗(yàn)電壓為1000V～3000V，一般情況下為1000V，電源頻率為50Hz。

9.1.2 按設(shè)備說(shuō)明書(shū)正確的連接。

9.1.3 接通電源預(yù)熱30min。

9.1.4 將試樣接人電橋C、的橋臂中，加上試驗(yàn)電壓，根據(jù)電橋使用方法進(jìn)行平衡，讀取R3和tanδ或C4的值。

9.2 方法B—諧振升高法（Q表法）

9.2.1 按照Q表的操作規(guī)程調(diào)整儀器，選定測(cè)量頻率，測(cè)定C1和Q1的值。

9.2.2 將試樣放入測(cè)試電極中，并調(diào)節(jié)電容器C，使電路諧振，達(dá)到大Q值記下調(diào)諧電容量C2和Q2的值。

9.2.3 將試樣從測(cè)試電極中取出，調(diào)節(jié)C或測(cè)試電極的距離，使電路重新諧振，記下C、或測(cè)試電極的校正電容值與Q值，并根據(jù)測(cè)試值計(jì)算出損耗角tanδ與介電常數(shù)ε。

9.2.4 其他高頻測(cè)試儀器按其說(shuō)明書(shū)進(jìn)行操作，通過(guò)測(cè)試值計(jì)算出損耗角tanδ和介電常數(shù)ε。

10、試驗(yàn)結(jié)果：

10.1 方法A

10.1.1 介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）可在電橋上直接讀數(shù)，按式（1）進(jìn)行計(jì)算：

tanδ=2πfR₄C₄×10^-6…………………………（1）

式中：

π——3.14；

f——頻率50Hz；

R₄——固定電阻阻值，單位為歐姆（Ω）；

C₄——可變電容值，單位為微法（μF）；

10.1.2 介電常數(shù)（ε）的計(jì)算見(jiàn)表6。

表 6 介電常數(shù)的計(jì)算

10.2 方法B

10.2.1 電容的計(jì)算

10.2.1.1 諧振升高法

應(yīng)用支架電極時(shí)按式（7）計(jì)算：

C_x=C₁-C₂+C_a…………………………………（7）

應(yīng)用測(cè)微電極時(shí)按式（8）計(jì)算：

C_x=C’₁-C’₂+C_a……………………………（8）

10.2.1.2 變電納法（配用測(cè)微電極）：

按式（9）、式（10）計(jì)算：

C_x=C₁-C₂+C_a…………………………………（9）

其中：C_a= …………………………（10）

當(dāng)電極直徑為38mm時(shí)，則Ca=1/d

式中：

Cx——試樣的并聯(lián)等值電容，單位為皮法（pF）；

C₁——電極間距為試樣厚度d，且無(wú)試樣時(shí)諧振電容量，單位為皮法（pF）；

C₂——有試樣時(shí)諧振電容量，單位為皮法（pF）；

C'₁——極的校正電容值，單位為皮法（pF）；

C'——有試樣時(shí)，測(cè)微電極間距等于試樣厚度時(shí)，測(cè)微電極的校正電容值，單位為皮法（pF）；

C——試樣的幾何電容量，單位為皮法（pF）；

S——電極面積單位為平方厘米（cm²）；

d——試樣厚度，單位為厘米（cm）。

10.2.2 介電常數(shù)ε的計(jì)算

按式（11）計(jì)算：

………………………（11）

式中：

C_x——試樣的并聯(lián)等值電容，單位為皮法（pF）；

d——試樣的厚度，單位為厘米（cm）；

D——電極的直徑，單位為厘米（cm）。

10.2.3介質(zhì)損耗角正切tanδ值的計(jì)算

10.2.3.1諧振升高法（Q表法）按式（12）計(jì)算：

……………………（12）

10.2.3.2 變電納法：各種高頻損耗測(cè)試儀配用測(cè)微電極使用時(shí)按式（I3）計(jì)算：

………………………（13）

式中：

C’——無(wú)電極時(shí)，諧振回路標(biāo)準(zhǔn)電容器指示值單位為皮法（pF）；

Q₁——無(wú)試樣時(shí)，電極間距為d時(shí)，諧振Q值；

Q₂——電極間有試樣時(shí)的諧振Q值；

△C_i—有試樣時(shí)兩次衰減至諧振峰0.707時(shí)，微調(diào)電容變化量，單位為皮法（pF）；

△C₀——無(wú)試樣時(shí)兩次衰減至諧振峰0.707時(shí)，微調(diào)電容變化量，單位為皮法（pF）；

C_x——試樣的并聯(lián)等值電容，單位為皮法（pF）。

10.2.4 管狀試樣測(cè)試結(jié)果計(jì)算

10.2.4.1 試樣電容量按式（14）計(jì)算：

C_x=C₁-C₂…………………………（14）

式中：

C₁——無(wú)試樣時(shí)，諧振電容量；

C₂——有試樣時(shí)，諧振電容量。

10.2.4.2試樣介電常數(shù)按式（15）式（16）計(jì)算：

…………………………（15）

其中：…………………（16）

式中：

L——電極長(zhǎng)度，單位為厘米（cm）；

D₁、D₂——管外徑和內(nèi)徑，單位為厘米（cm）。

10.2.4.3 損耗角正切值的計(jì)算

與Q表接線(xiàn)柱直接連線(xiàn)時(shí)按式（17）計(jì)算：

………………………（17）

當(dāng)高頻介質(zhì)損耗角測(cè)試儀與測(cè)微電極連接時(shí)按式（l8）計(jì)算：

………………………（18）

式中：

C1、Q1——無(wú)試樣時(shí)，諧振電容量及Q值；

C2、Q2——有試樣時(shí)，諧振電容量及Q值；

△Ci——有試樣時(shí)兩次衰減至諧振峰0.707時(shí)，微調(diào)電容變化量，單位為皮法（pF）；

△C0——無(wú)試樣時(shí)兩次衰減至諧振峰0.707時(shí)，微調(diào)電容變化量，單位為皮法（pF）。

注：不同試驗(yàn)環(huán)境對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響因素參見(jiàn)附錄B。

10.3 試驗(yàn)結(jié)果以每組試驗(yàn)結(jié)果的中位數(shù)表示，取兩位有效數(shù)字。

11、介電常數(shù)測(cè)試儀試驗(yàn)報(bào)告：

介電常數(shù)測(cè)試儀試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包括以下內(nèi)容：

a） 介電常數(shù)測(cè)試儀試樣編號(hào)；

b） 本標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)或本標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)；

c） 介電常數(shù)測(cè)試儀試驗(yàn)結(jié)果

d） 實(shí)驗(yàn)室溫度、濕度；

e） 介電常數(shù)測(cè)試儀試樣的規(guī)格；

f） 測(cè)元件及電極尺寸；

g） 試樣和測(cè)試條件的調(diào)節(jié)；

h） 介電常數(shù)測(cè)試儀測(cè)量方法和測(cè)量電路；

i） 介電常數(shù)測(cè)試儀試驗(yàn)電壓及頻率；

j） 試驗(yàn)者；

k） 試驗(yàn)日期。